Æı«¹°¼º ¿¹Ãø¿ë, ¸Ó½Å·¯´× ¸ðµ¨ ¼³°è
±èµ¿ÈÆ
KIST

¼ÒÀç ºÐ¾ß¿¡¼­ À̹ÌÁö µ¥ÀÌÅ͸¦ ¸Ó½Å·¯´× ¿¬±¸ÀÇ ÀÎDzÀ¸·Î È°¿ëÇÏ´Â »ç·Ê°¡ ´Ã°í ÀÖ´Ù. º» ¹ßÇ¥¿¡¼­´Â µÎ°¡Áö »ç·Ê¸¦ ÅëÇØ, ¼ÒÀç À̹ÌÁö µ¥ÀÌÅÍÀÇ Àüó¸® °úÁ¤ÀÇ Á߿伺À» °­Á¶ÇÏ°íÀÚ ÇÑ´Ù. ù¹ø° »ç·Ê´Â, ¼ÒÀçÀÇ 2Â÷¿ø ȸÀýÆÐÅÏ (diffraction pattern)À¸·ÎºÎÅÍ °áÁ¤ °ø°£±º (space group)À» ºÐ·ùÇÏ´Â ÀÛ¾÷ÀÌ´Ù. 2Â÷¿ø ȸÀýÆÐÅÏÀº »ó´çÈ÷ ºÒ±ÔÄ¢ÀûÀÌ°í ÀâÀ½(noise)ÀÌ ¸¹´Ù. À̸¦ ±Øº¹Çϱâ À§Çؼ­ ȸÀýÆÐÅÏ¿¡ peakÀÇ À§Ä¡¸¦ ±â¹ÝÀ¸·Î ¸ð¾çµé (shapes)À» Ãß°¡ÇÏ´Â Àüó¸® ¹æ¹ýÀ» °³¹ßÇÏ¿´´Ù. µÎ¹ø° »ç·¹¿¡´Â, ½ºÅ×Àθ®½º °­ ³»ºÎ¸¦ ÃøÁ¤ÇÑ 3Â÷¿ø X-CT À̹ÌÁö·ÎºÎÅÍ Æı«¹°¼ºÀ» ¿¹ÃøÇÏ´Â ÀÛ¾÷ÀÌ´Ù. 3Â÷¿ø X-CT µ¥ÀÌÅÍÀÇ ³»ºÎ¿¡´Â ¼ö¸¹Àº ±â°øµéÀÌ ¸Å¿ì º¹ÀâÇÑ ÇüÅ·ΠÀ§Ä¡ÇÏ°í ÀÖ¾î Áï°¢ÀûÀÎ ¸Ó½Å·¯´× ¸ðµ¨¿¡ Àû¿ëÀÌ ¾î·Æ´Ù. À̸¦ ±Øº¹Çϱâ À§Çؼ­ ÅäÆú·ÎÁö µ¥ÀÌÅÍ ºÐ¼®¹ý (topological data analysis)À» µµÀÔÇÏ¿© ±â°øµéÀÇ Á¤º¸¸¦ ´Ü¼øÇÑ ÇüÅ·ΠÁ¤·®È­ÇÏ´Â Àüó¸® ¹æ¹ýÀ» °³¹ßÇÏ¿´´Ù. À§ÀÇ µÎ»ç·Ê¸¦ ÅëÇØ, ¼ÒÀç À̹ÌÁö µ¥ÀÌÅÍÀÇ Àüó¸®ÀÇ Á߿伺À» ¾Ë¸®°íÀÚ ÇÑ´Ù.