S81. 소재 이미징 심포지엄
Organizer: 최시영 교수(POSTECH), 송경 박사(KIMS) / E-mail: youngchoi@postech.ac.kr
소개
신산업을 개척하기 위한 첨단 소재기술의 개발을 가속화되고 있으며 이를 위해서는 첨단소재 개발의 근간이 되는 분석평가 기술이 필요하다. 새로운 현상을 촉진하는 소재의 설계는 소재를 구성하는 원자들로부터의 화학적, 전기적, 물리적 정보에서 시작하게 되며, 원자단위에서의 결정구조, 전자구조, 화학구조의 분석이 요구된다. 최근 high-order 구면수차보정기와 monochromato를 이용한 EELS 분석기기는 기존 투과전자현미경의 전통적인 구조분석의 한계를 뛰어 넘어 전자현미경에서 새로운 해석 기법들이 나오고 있으며, 표면으로부터의 물성 정보를 해석하는 SPM 분석 기법 역시 정밀도가 향상되고 기능성이 넓어지면서 소재 물성 해석에 다양하게 적용되고 있다. 본 심포지엄에서는 최근 세라믹 분야에 활용이 되고 있는 첨단 전자현미경과 SPM의 분석 기법을 소개하여 첨단 분석 기법을 널리 활용하고자 한다.
심포지엄 세부 분야
  • Aberration-corrected TEM/STEM
  • Monochromated EELS
  • Scanning Probe Microscopy
  • Focused Ion Beam and in-situ analysis
초청연사
  • 홍승범 교수(KAIST): Materials Imaging Initiative: Past, Present, and Future
  • 박제욱 박사(POSTECH): Role of hydrogen in controlling spin-polarized surface states of nano-islands
  • 장재혁 박사(KBSI 전자현미경센터): Material structure, properties, and dynamics through scanning transmission electron microscopy
  • 송경 박사(KIMS): Holographic imaging of electric and magnetic field in functional oxides